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光纤光缆技术标准最新进展

经过多年的发展,光纤光缆领域的技术标准已经逐步形成了一套相对稳定的标准体系。其中ITU-T的G.65x系列建议书,IEC的60793和63794系列标准,GB/T 9771、GB/T 15972、GB/T 12357等系列国家标准,以及以行业标准为主的一系列光缆标准等,为光纤光缆产品的生产、工程建设和进出口检验提供了先进、统一的技术规范,提高了整个行业的标准化、规范化程度。



随着近年来光纤光缆技术的进一步发展,部分标准的技术细节也在随之更新和修订,以更加适应市场的需要。本文主要介绍了2009年以来在光纤光缆领域技术标准的最新进展情况,并针对最新的修订内容进行了详细解释。



1 光纤技术标准进展



1.1 ITU-T光纤技术标准进展



1.1.1 ITU-T G.650.1



ITU-T G.650.1于2010年进行了修订,其中主要的更新为以下几点。



a)ITU-T G.650.1-2009第5.3节,删除了跳线截止波长的测试方法。由于实际意义较小,单模光纤规范中均删除了跳线截止波长的定义和指标要求。



b)ITU-T G.650.1-2009第5.3.1.3节,截止波长的测试步骤,对打圈参考法和多模参考法的使用进一步给予了详细解释。对于打圈参考法,所打圈的半径应该在测试之前予以确定。圈的半径应足够小,以滤除次高阶模式,却不应太小,以至于引起长波长处的宏弯损耗。对于G.652~G.656光纤来说,典型的打圈半径为10~30 mm,但对于某些G.657光纤,圈的半径可能要求更小。对于一些G.657光纤,由于其优异的抗弯曲特性,使用打圈参考法测试截止波长可能并不适合,这种情况下,推荐使用多模参考法进行测试。



c)ITU-T G.650.1-2009第5.6节,增加了宏弯损耗的测试方法。



1.1.2 ITU-T G.650.3



ITU-T G.650.3于2011年以增补文件的形式新增了资料性附录三:“在已安装的链路上区分宏弯点和熔接点的方法”,其主要原理是依据测试2个波长处的双向OTDR曲线,对于某一个损耗事件点,根据2个波长处实测损耗值,计算宏弯因子,再通过宏弯因子判断该处是否为异常宏弯点。由于G.657光纤的弯曲损耗一般很小,建议书中注明了此方法一般只适用于G.652光纤。同时,在不清楚链路中使用的光纤类型时,此方法也不适用。



1.1.3 ITU-T G.652~G.656



G.652~G.656系列标准均在2009—2010年进行了更新,但实际的技术指标并没有大的变化。



所有单模光纤系列的标准中,均删除了跳线截止波长的相关内容。



1.1.4 ITU-T G.657



2009版的ITU-T G.657较上一版本变化较大,主要表现在对光纤分类上,由最早的G.657 A和G.657 B改为了G.657 A1、A2、B2、B3 4个子类。



2010年6月,ITU还发布了G.657建议书的增补文件,对资料性附录一:“小弯曲半径条件下光纤的寿命预测”进行了修订。



另外,在2011年2月最近一次的ITU-T会议上,对G.657建议书的进一步发展进行了广泛的讨论。其中形成一致意见的是:在下一版本的ITU-T G.657建议书中,将B2和B3类光纤的MFD范围变为与A1和A2一致,即删除下限为6.3 μm的小模场光纤类型。其主要原因在于小模场的G.657光纤在实际应用中与G.652光纤的接续损耗较大,且现在市场上各厂商的主流产品均为模场直径与G.652光纤接近,而非小模场的光纤。此意见将在下一版本的修订中继续进行讨论,现阶段官方发布的正式建议书中仍维持了原分类原则。


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